熱釋光劑量計是一種基于熱釋光現(xiàn)象的輻射劑量測量儀器。熱釋光現(xiàn)象指的是某些晶體材料在受到輻射照射后,會積累能量,當(dāng)這些材料被加熱時,會以光的形式釋放出之前積累的能量,釋放的光子數(shù)量與所接受的輻射劑量成正比。
其工作原理:熱釋光材料(如氟化鋰晶體等)在輻射環(huán)境中,其原子或分子會吸收輻射能量并被激發(fā)到高能態(tài)。當(dāng)材料被加熱到特定溫度時,處于高能態(tài)的原子或分子會躍遷回低能態(tài),同時釋放出光子。通過測量釋放的光子數(shù)量,并結(jié)合預(yù)先建立的劑量-光子數(shù)校準(zhǔn)曲線,就可以準(zhǔn)確計算出所接受的輻射劑量。
一、佩戴與布點技巧
合理選擇佩戴位置
個人監(jiān)測:通常佩戴在軀干前部(如鎖骨附近或胸前),避免肢體活動遮擋輻射場。
環(huán)境監(jiān)測:將劑量計固定在待測區(qū)域(如設(shè)備表面、墻壁、地面),確保與輻射源幾何位置匹配。
多點布設(shè):在復(fù)雜輻射場中,需布置多個劑量計(如不同高度、方向),以評估劑量分布均勻性。
避免干擾因素
遠離熱源(如暖氣、陽光直射),以免溫度影響測量結(jié)果。
防止機械損傷(如擠壓、摩擦),避免劑量計外殼破損導(dǎo)致材料暴露。
二、輻照與測量操作
輻照前準(zhǔn)備
退火處理:使用前需對TLD進行退火處理(如高溫加熱后快速冷卻),以消除上次測量的殘留信號。退火條件需嚴(yán)格遵循制造商要求(如溫度、時間)。
本底校正:設(shè)置一組未輻照的劑量計作為本底對照組,用于扣除環(huán)境本底信號。
輻照過程控制
均勻照射:確保輻射源與劑量計的位置固定,避免因距離或角度變化導(dǎo)致劑量偏差。
避免過曝:嚴(yán)格控制輻照劑量,避免超過TLD材料的飽和閾值(如鋰氟化物約10 Gy以上可能失效)。
熱釋光測量
升溫速率控制:測量時需按標(biāo)準(zhǔn)程序控制加熱速率(通常為5℃/s左右),避免過快或過慢導(dǎo)致信號失真。
信號讀取時機:在加熱過程中,記錄發(fā)光峰值對應(yīng)的溫度和強度,避免遺漏關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
三、數(shù)據(jù)處理與分析
本底扣除
從輻照后的TLD信號中減去本底對照組的信號,得到凈劑量值。本底值需定期更新(如每月校準(zhǔn)一次)。
劑量轉(zhuǎn)換與校準(zhǔn)
刻度曲線法:使用已知劑量的輻照源(如銫-137)預(yù)先繪制劑量-發(fā)光強度標(biāo)準(zhǔn)曲線,通過比對實際測量值計算劑量。
重復(fù)測量:同一劑量計需重復(fù)測量3次以上,取平均值以減少隨機誤差。
異常值處理
若某點測量值顯著偏離周圍趨勢,需檢查是否因劑量計損壞、污染或輻射場不均勻?qū)е拢匾獣r重新布點測量。
四、維護與存儲
防污染與防潮濕
存放時需密封保存(如真空袋或干燥器),避免TLD材料受潮或化學(xué)污染。
使用后及時清潔劑量計外殼,尤其是接觸放射性物質(zhì)的場景。
定期校準(zhǔn)
每半年至一年送專業(yè)機構(gòu)校準(zhǔn),檢查TLD材料的靈敏度和穩(wěn)定性。
更換老化或性能下降的劑量計(如發(fā)光效率降低超過30%)。
退火設(shè)備維護
退火爐的溫度均勻性需定期檢測,確保所有TLD材料受熱一致。
退火后需快速冷卻(如水冷或風(fēng)冷),避免緩慢降溫導(dǎo)致信號衰減。
五、特殊場景注意事項
高劑量率環(huán)境
在核電站、工業(yè)探傷等高劑量率場景中,縮短劑量計的暴露時間,或使用高靈敏度TLD材料(如鋰硼化物)。
低劑量環(huán)境
在自然環(huán)境監(jiān)測或弱輻射場中,延長暴露時間(如數(shù)月),并選用低本底噪聲的TLD材料(如鈣氟化物)。
混合輻射場
區(qū)分不同輻射類型(如X射線、γ射線、β射線)的影響,必要時配合其他探測器(如半導(dǎo)體探測器)聯(lián)合使用。
